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无锡展硕获得一种半导体晶片外表薄膜厚度实时检测设备专利

来源:火狐全站    发布时间:2025-03-05 09:25:52

  金融界2025年1月7日音讯,国家知识产权局信息数据显现,无锡展硕科技有限公司获得一项名为“一种半导体晶片外表薄膜厚度实时检测设备”的专利,授权公告号 CN 118910575 B,请求日期为 2024 年 10 月。

  天眼查资料显现,无锡展硕科技有限公司,成立于2017年,坐落无锡市,是一家以从事研讨和实验开展为主的企业。企业注册本钱1500万人民币,实缴本钱1500万人民币。经过天眼查大数据分析,无锡展硕科技有限公司参加招投标项目17次,专利信息42条,此外企业还具有行政许可7个。

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